在半導體制造過程中，全自動晶圓缺陷檢測技術對光學成像效果要求很高。檢測分明場和暗場，明暗場大多使用高亮光纖光源成像，觀察硅片的表面缺陷（如崩邊缺角，表面臟污）。樂視科技新升級2代新款高亮光纖光源，新款2SLG250比2SLG150-W亮度提升60%。發光效能高，發熱量低，是半導體檢測的最佳搭配。
產品特點
◆采用多組耦合透鏡設計實現高亮度，高效能
◆外觀簡潔流暢，體積更小巧
◆標配R/G/B/W/CW（高顯色）型5種顏色
◆20mm照度可達到1500萬LX
◆適合半導體顯微模組應用
照度特性圖
型號：LTS-2SLG250-W/2SLG150-W
注：調光100%、光纖8mm光束，總長1100mm的直型光纖導管，從光纖出光口到各照射距離的位置的實測值（并非保證值）。
亮度對比圖
2SLG250-W比2SLG150-W亮度提升60%以上
可配套4款不同集光鏡
照度分布圖(LTS-HL)
照度分布圖(LTS-ML)
成像灰度對比圖
相機：ACA2440-20gm
鏡頭：LTS-TC05110
相機曝光：130us
顯微模組晶圓應用示意圖
光源參數
